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| GA/T 1171-2014 |
芯片相似性比对检方方法 |
480 元 |
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| GB/T 17023-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范 |
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| GB/T 3435-1987 |
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 |
7740 元 |
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| GB/T 26113-2010 |
微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则 |
960 元 |
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| GB/T 17572-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范 |
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| GB/T 35005-2018 |
集成电路倒装焊试验方法 |
1200 元 |
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| GB/T 15862-1995 |
离子注入机通用技术条件 |
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| GB/T 14620-1993 |
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 |
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| GB/T 20296-2006 |
集成电路记忆法与符号 |
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| GB/T 14114-1993 |
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 |
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| GB/T 20515-2006 |
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路 |
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| GB 9178-1988 |
集成电路术语 |
5940 元 |
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| GB/T 12843-1991 |
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 |
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1-3天
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| GB/T 4377-1996 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
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| GB 6813-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种 |
300 元 |
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| GB/T 32816-2016 |
硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范 |
1200 元 |
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| SJ 50597/62-2006 |
半导体集成电路JF1558、JF1558A型通用双运算放大器详细规范 |
1320 元 |
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| GB/T 3434-1986 |
半导体集成电路ECL电路系列和品种 |
6480 元 |
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| GB/T 35011-2018 |
微波电路 压控振荡器测试方法 |
1200 元 |
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| SJ/T 10804-2000 |
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 |
2100 元 |
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