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| GB/T 34900-2017 |
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法 |
960 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快闪存储器接口规范 |
2160 元 |
付款后
1-5天
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现行
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| GB/T 14028-2018 |
半导体集成电路 模拟开关测试方法 |
1680 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 20296-2012 |
集成电路记忆法与符号 |
1920 元 |
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1-5天
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现行
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| GB/T 35086-2018 |
MEMS电场传感器通用技术条件 |
1200 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 35003-2018 |
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 |
720 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 34893-2017 |
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法 |
720 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 4377-2018 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法 |
1680 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 35010.1-2018 |
半导体芯片产品 第1部分：采购和使用要求 |
2400 元 |
付款后
1-5天
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现行
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| GB/T 35010.5-2018 |
半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求 |
720 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 28276-2012 |
硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范 |
960 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| GB/T 15878-1995 |
小外形封装引线框架规范 |
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付款后
1-3天
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已作废
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请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
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| GB/T 35010.4-2018 |
半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求 |
1200 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 15877-1995 |
蚀刻型双列封装引线框架规范 |
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付款后
1-3天
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已作废
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请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
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| GB/T 15878-2015 |
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范 |
960 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 33929-2017 |
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法 |
960 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 16526-1996 |
封装引线间电容和引线负载电容测试方法 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快闪存储器接口规范 |
1920 元 |
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1-5天
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| GB/T 16523-1996 |
圆形石英玻璃光掩模基板规范 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 33657-2017 |
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 |
960 元 |
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现行
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