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| YS/T 581.10-2006 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分 X射线荧光光谱分析法测定硫含量 |
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| GB/T 30654-2014 |
Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法 |
720 元 |
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| GB/T 1550-2018 |
非本征半导体材料导电类型测试方法 |
960 元 |
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| GB/T 34210-2017 |
蓝宝石单晶晶向测定方法 |
480 元 |
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1-3天
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现行
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| GB 8763-1988 |
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 |
240 元 |
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1-3天
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| GB/T 16596-1996 |
确定晶片坐标系规范 |
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| GB/T 24271-2009 |
热双金属条形元件技术条件 |
480 元 |
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| GB/T 38804-2020 |
金属材料高温蒸汽氧化试验方法 |
720 元 |
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即将实施
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| GB/T 5225-1985 |
金属材料定量相分析 X射线衍射K值法 |
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| GB/T 3651-2008 |
金属高温导热系数测量方法 |
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| GB/T 3170.1-1982 |
铝粉粒度的测定 机械振动筛分法 |
240 元 |
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| GB 1555-1979 |
硅单晶晶向光图测量方法 |
120 元 |
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已作废
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| GB/T 30537-2014 |
超导电性 块状高温超导体的测量 大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度 |
1200 元 |
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| YS/T 581.15-2007 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第15部分 游离氧化铝含量的测定 |
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| GB/T 6620-1995 |
硅片翘曲度非接触式测试方法 |
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| GB 3493-1983 |
贵金属及其合金细丝直径测量方法 (称重法) |
180 元 |
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| YS/T 629.5-2007 |
高纯氧化铝化学分析方法 氧化钙、氧化镁含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
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| GB 6146-1985 |
精密电阻合金电阻率测试方法 |
240 元 |
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| GB/T 13388-1992 |
硅片参考面结晶学取向X射线测量方法 |
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| YS/T 455.7-2006 |
铝箔试验方法 第7部分:铝箔厚度的测定 称量法 |
420 元 |
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