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| GB/T 4339-2008 |
金属材料热膨胀特征参数的测定 |
1440 元 |
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| GB/T 1555-1997 |
半导体单晶晶向测定方法 |
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| GB/T 14847-1993 |
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 |
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| GB/T 1552-1995 |
硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 |
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| YS/T 273.9-2006 |
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第9部分: 钼蓝分光光度法测定五氧化二磷含量 |
360 元 |
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| GB 3492-1983 |
贵金属及其合金薄壁细管尺寸的测量方法(称重法) |
180 元 |
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| YS/T 617.5-2007 |
铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第5部分 铝粉中油脂含量的测定 |
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| GB/T 32280-2015 |
硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法 |
960 元 |
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| YS/T 617.1-2007 |
铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第1部分 活性铝、活性镁、活性铝镁量的测定 气体容量法 |
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| GB/T 3848-1983 |
硬质合金矫顽(磁)力测定方法 |
120 元 |
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| GB/T 5167-1985 |
烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 |
180 元 |
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| GB/T 6616-1995 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 |
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| GB/T 4104-2003 |
直接法氧化锌白度(颜色)检验方法 |
180 元 |
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| YS/T 629.3-2007 |
高纯氧化铝化学分析方法 氧化钠含量的测定 火焰原子吸收光谱法 |
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| YS/T 617.8-2007 |
铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第8部分 松装密度的测定 |
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| YB/T 5321-2006 |
膨胀合金气密性试验方法 |
180 元 |
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| YS/T 273.2-2006 |
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第2部分: 灼烧减量的测定 |
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| YS/T 581.7-2006 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第7部分 邻二氮杂菲分光光度法测定三氧化二铁含量 |
300 元 |
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| YS/T 581.13-2006 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第13部分 安息角的测定 |
300 元 |
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| YS/T 273.4-2006 |
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第4部分: EDTA容量法测定铝含量 |
360 元 |
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