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标准状态 |
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| SJ 50033/90-1995 |
半导体分立器件 3DK106型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 |
600 元 |
付款后
1天
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现行
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| SJ 2031-1982 |
ＭＧ２４型密封硫化镉光敏电阻器 |
180 元 |
付款后
1-3天
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| SJ/T 10348-1993 |
电子器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 ＭＹＧ２型过压保护用氧化锌压敏电阻器 评定水平Ｅ |
900 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| SJ 2215.6-1982 |
半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法 |
120 元 |
付款后
1天
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已作废
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| SJ/T 11048-1996 |
电子器件详细规范 浪涌抑制用压敏电阻器 ＭＹＧ１型过压保护压敏电阻器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
720 元 |
付款后
1-3天
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| SJ 50033/70-1995 |
半导体分立器件 ＰＩＮ３５系列ＰＩＮ二极管详细规范 |
480 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| SJ 2215.11-1982 |
半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 |
120 元 |
付款后
1天
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已作废
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| YD/T 638.6-1993 |
电报通信设备型号命名方法 |
180 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| SJ 2214.6-1982 |
半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 |
120 元 |
付款后
1天
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已作废
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| SJ/T 10554-1994 |
敏感器件文字符号 |
1080 元 |
付款后
1天
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现行
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| SJ 2309.1-1983 |
ＭＹＺ１型消噪用氧化锌压敏电阻器 |
240 元 |
付款后
1-3天
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| SJ 1553-1980 |
测温型负温度系数热敏电阻器总技术条件 |
3060 元 |
付款后
1天
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现行
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| SJ 50033/68-1995 |
半导体分立器件 ＢＴ５１型ＮＰＮ硅小功率差分对晶体管详细规范 |
660 元 |
付款后
1-3天
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现行
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| SJ 2215.2-1982 |
半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 |
120 元 |
付款后
1天
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已作废
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| SJ/Z 9011.4-1987 |
光敏器件的测试 第４部分：光电倍增管的测试方法 |
960 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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| SJ 1558-1980 |
ＭＦ４１型和ＭＦ４４型旁热型负温度系数热敏电阻器 |
180 元 |
付款后
1-3天
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| SJ 2215.1-1982 |
半导体光耦合器测试方法总则 |
120 元 |
付款后
1天
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已作废
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| SJ 2215.3-1982 |
半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法 |
120 元 |
付款后
1天
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已作废
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| SJ 50033/83-1995 |
半导体分立器件 ＣＳ１３９型硅Ｐ沟道ＭＯＳ增强型场效应晶体管详细规范 |
600 元 |
付款后
1天
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现行
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| SJ/T 10798-1996 |
电子器件详细规范 ＭＦ１１型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
600 元 |
付款后
1-3天
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已作废
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