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| GB 12199-1990 |
非广播盒式磁带录像机环境要求和试验方法 |
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| SJ 20802-2001 |
集成电路金属外壳目检标准 |
1200 元 |
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1-3天
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| GB 8976-1988 |
膜集成电路和混合集成电路总规范 |
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| GB 7092-1986 |
半导体集成电路外形尺寸 |
1980 元 |
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1-5天
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| SJ 20954-2006 |
集成电路锁定试验 |
900 元 |
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1-3天
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现行
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| ZB L 55001-1989 |
机电仪专用集成电路型号命名方法 |
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| GB 9178-1988 |
集成电路术语 |
5940 元 |
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1-10天
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现行
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| SJ/T 10804-2000 |
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 |
2100 元 |
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1-5天
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| SJ 20938-2005 |
微波电路变频测试方法 |
1500 元 |
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1-3天
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现行
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| SJ 2817-1987 |
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸 |
840 元 |
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1-3天
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| ZBBZH/ZS |
中国石化加油集成电路(IC)卡应用规范(V1.0版) |
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现行
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| SJ/T 10741-2000 |
半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 |
2220 元 |
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1-5天
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| SJ 20961-2006 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 |
1860 元 |
付款后
1-5天
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现行
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| SJ/T 10805-2000 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 |
1560 元 |
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1天
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| SJ/Z 9015.1-1987 |
半导体器件 集成电路 第一部分:总则 |
780 元 |
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1-3天
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