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| SJ 20644/2-2001 |
半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范 |
540 元 |
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现行
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| GB/T 36359-2018 |
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 |
960 元 |
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1-3天
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现行
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| GB/T 36360-2018 |
半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 |
960 元 |
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1-3天
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现行
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| SJ 2658.1-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 总则 |
120 元 |
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1-3天
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| GB 9493-1988 |
电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管 |
720 元 |
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| SJ 2685-1986 |
圆形橙红色半导体发光二极管 |
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| SJ 2658.13-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 |
300 元 |
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1-3天
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| GB/T 36356-2018 |
功率半导体发光二极管芯片技术规范 |
1200 元 |
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1-3天
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现行
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| SJ 53930/1-2002 |
半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范 |
420 元 |
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| SJ 2658.4-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 |
240 元 |
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| SJ 2452-1984 |
磷化镓黄绿色发光二极管 |
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| SJ 2658.12-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 |
300 元 |
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1-3天
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| SJ 2658.11-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 |
300 元 |
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| SJ 2658.5-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 |
240 元 |
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| SJ 2451-1984 |
磷化镓红色发光二极管 |
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| SJ 2658.2-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 |
240 元 |
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| SJ 2658.7-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 |
240 元 |
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| GB 9492-1988 |
电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管 |
1520 元 |
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1天
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现行
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| GB/T 36357-2018 |
中功率半导体发光二极管芯片技术规范 |
1200 元 |
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现行
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| JB/T 10875-2008 |
发光二极管光学性能测试方法 |
780 元 |
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