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GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 24582-2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 480 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 1200 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范 1200 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法 付款后 现行 请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范 1200 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14264-1993 半导体材料术语 付款后 1-3天 已作废 请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 480 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 480 元 付款后 1-3天 现行
YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法 120 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 14264-2009 半导体材料术语 3120 元 付款后 1-8天 现行
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 2160 元 付款后 1-5天 现行
GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片 720 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱 2640 元 付款后 1-5天 现行
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