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| GB/T 5201-1994 |
带电粒子半导体探测器测试方法 |
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| GB/T 10261-2008 |
核辐射探测器用直流稳压电源 |
1440 元 |
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1-3天
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| GB 12125-1989 |
核仪器图形符号、文字代号、参数符号 |
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| GB/T 8992-1988 |
硅(锂)X射线探测器系统测试方法 |
2920 元 |
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被替代
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| GB 8993.7-1988 |
核仪器环境试验基本要求与方法碰撞试验 |
120 元 |
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| GB/T 11685-1989 |
半导体X射线能谱仪的测试方法 |
960 元 |
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1-3天
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已作废
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| GB/T 10261-1988 |
核仪器用高、低压直流稳压电源测试方法 |
780 元 |
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1-3天
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| GB 8993.4-1988 |
核仪器环境试验基本要求与方法振动试验 |
240 元 |
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| GB/T 19661.1-2005 |
核仪器及系统安全要求 第1部分：通用要求 |
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现行
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| GB 8993.11-1988 |
核仪器环境试验基本要求与方法浸水试验 |
120 元 |
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| GB/T 10255-1996 |
γ放射免疫计数器 |
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| GB/T 10259-1988 |
液体闪烁计数系统 |
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1-3天
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| GB/T 10263-2006 |
核辐射探测器环境条件与试验方法 |
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| GB/T 11685-2003 |
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
1560 元 |
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1-3天
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| GB/T 13181-2002 |
闪烁体性能测量方法 |
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| GB 8993.1-1988 |
核仪器环境试验基本要求与方法总纲 |
600 元 |
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| GB/T 7523-1987 |
CAMAC子程序 |
1140 元 |
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| GB/T 7167-1996 |
锗γ射线探测器测试方法 |
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| GB 7167-1987 |
锗(锂)γ射线探测器测试方法 |
560 元 |
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被替代
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| GB 10256-1988 |
放射性活度计 |
780 元 |
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