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YS/T 223-1996 硒 480 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法 720 元 付款后 1-3天 现行
YS/T 838-2012 碲化镉 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 960 元 付款后 1-3天 现行
YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 960 元 付款后 1-3天 已作废
GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱 5280 元 付款后 1-10天 现行
YS/T 26-1992 硅片边缘轮郭检验方法 180 元 付款后 1-3天 已作废
SJ 20866-2003 交叉辗压钼铼合金片规范 420 元 付款后 1天 现行
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 720 元 付款后 1-3天 现行
SJ/T 11396-2009 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片 900 元 付款后 1-3天
GB/T 12962-2015 硅单晶 720 元 付款后 1-3天 现行
YS/T 986-2014 晶片正面系列字母数字标志规范 960 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 480 元 付款后 1-3天 现行
YS 68-2004 砷 240 元 付款后 1天 已作废
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 付款后 1-3天 已作废 请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 720 元 付款后 1-3天 现行
GB/T 12965-1996 硅单晶切割片和研磨片 付款后 已作废 请联系我们查询售价，邮箱:bz@bzfyw.com
GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法 720 元 付款后 1-3天 现行
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