GB/T17554规定了符合GB/T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。
GB/T17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。
除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定义的邻近式卡。
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义、缩略语和符号 1
4 适用于测试方法的默认条款 2
5 静电测试 2
6 测试装置和测试电路 3
7 VICC的功能测试 6
8 VCD的功能测试 7
9 VICC的工作场强测试 8
附录A (规范性附录) 测试VCD天线 9
附录B(资料性附录) 测试VCD天线调谐 11
附录C (规范性附录) 传感线圈 13
附录D (规范性附录) 用于VCD功率测试的参考VICC 15
附录E (资料性附录) 用于负载调制测试的参考VICC 17
附录F(资料性附录) 频谱计算程序 18