标准编号:	GB/T 17444-2013
中文名称:	红外焦平面阵列参数测试方法
英文名称:	Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
中标分类:	L52红外器件
行业分类:	国家标准(GB)
ICS分类:	31.260光电子学、激光设备
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2013-11-12
实施日期:	2014-04-15
标准状态:	现行
替代旧标准:	GB/T17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	28000 字
翻译价格(元):	1680 元
交付时间:	付款后 1-3工作日

本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

前言 Ⅰ
1 范围 1
2 术语和定义 1
3 符号和单位 4
4 测试方法 5
4.1 方法3001:响应率和响应率不均匀性 5
4.2 方法3002:噪声电压 8
4.3 方法3003:探测率 9
4.4 方法3004:噪声等效温差 9
4.5 方法3005:有效像元率 10
4.6 方法3006:固定图形噪声 11
4.7 方法3007:噪声等效功率 11
4.8 方法3008:饱和辐照功率 12
4.9 方法3009:动态范围 12
4.10 方法3010:相对光谱响应 13
4.11 方法3011:读出速率、帧频 14
4.12 方法3012:串音 15
附录A (规范性附录) 响应率的其他表示 17
附录B(规范性附录) 空间噪声 18
附录C (资料性附录) 备用特性参数及相关量 19
附录D (资料性附录) 调制传递函数测试方法 20
附录E (资料性附录) 非线性度测试方法 22
附录F(规范性附录) 一种推荐算法 23