本标准参考了IEC 60333：1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器（简称探测器）的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器（不包括位置灵敏探测器）。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容，对其的主要修改如下：
——增加前言；
——引用新的规范性文件；
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型；
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类，而主要性能增加“允许最大噪声”。
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T5201 带电粒子半导体探测器测试方法(GB/T5201-1994,neqIEC60333:1993)
GB/T10257-2001 核仪器和核辐射探测器质量检验规则
